MINITEST
720/730/740涂層測厚儀
MINITEST
720/730/740涂層測厚儀
INITEST
720/730/740涂層測厚儀
-測量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
SIDSP技術(shù)-全球*新技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢
什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，****的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的**奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)完全處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭完全依據(jù)世界**技術(shù)生產(chǎn)。
SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您**的涂層厚度值。此項(xiàng)**的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理無可比擬的信號(hào)質(zhì)量和**度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有極高的抗干擾性
任何與測量相關(guān)的信號(hào)，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測量信號(hào)不會(huì)通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾，因?yàn)椴辉儆袦y量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有極強(qiáng)的抗干擾能力。
SIDSP-測量信號(hào)高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)良性能。
高**度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來校準(zhǔn)，但SIDSP探頭不同：由于是全自動(dòng)化過程，探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn)，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn)，將測量錯(cuò)誤降至*低。
SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感
在生產(chǎn)過程中，對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a，這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測量，與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生！
SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)
需要快速測量幾個(gè)點(diǎn)嗎？只要開啟快速測量模式，探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測量嗎？沒問題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測量，SIDSP都能完成您的選擇！
SIDSP
N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償
由于使用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。
SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續(xù)改進(jìn)SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進(jìn)行免費(fèi)的軟件升級(jí)，使您的SIDSP探頭總是*新版本。
MINITEST
700系列及SIDSP
新的MINITEST 700產(chǎn)品線，加強(qiáng)了EPK在全球涂層測厚市場的領(lǐng)導(dǎo)地位.
有了新的SIDSPF型探頭（測量鐵基體）和N型探頭（測量非鐵基體），您可享受到高**度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST700可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品**的外觀是您長期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。
增加了測量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST700可以讓您輕松變換測量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測量大量數(shù)值；也可以只測量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí)，儀器會(huì)報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
使用簡單方便
MINITEST 700按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST740可以輕易由內(nèi)置探頭變換
為外置探頭，方便測量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和**
所有MINITEST700探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和**，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)全球銷售需要，MINITEST700滿足各種國際標(biāo)準(zhǔn)：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO19840和ASTM
D7091（以前的D1186和D1400）。
MINITEST 700優(yōu)點(diǎn)一覽：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加**
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高**度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
標(biāo)準(zhǔn)配置：推薦配件:
帶塑料手提箱，內(nèi)含：F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
--或MINITEST 730（外置探頭）
--或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
技術(shù)數(shù)據(jù)表 SIDSP探頭
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探頭
特性
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F1.5，N0.7，FN1.5
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F2
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F5，N2.5，FN5
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F15
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F
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N
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F
|
F
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N
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F
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測量范圍
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0-1.5mm
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0-0.7mm
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0-2mm
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0-5mm
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0-2.5mm
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0-15mm
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使用范圍
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小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用
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粗糙表面
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標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛
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厚涂層
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測量原理
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磁感應(yīng)
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電渦流
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磁感應(yīng)
|
磁感應(yīng)
|
電渦流
|
磁感應(yīng)
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信號(hào)處理
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探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）
|
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**度
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±（1μm+0.75%讀值）
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±（1.5μm+0.75%讀值）
|
±（5μm+0.75%讀值）
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重復(fù)性
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±（0.5μm+0.5%讀值）
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±（0.8μm+0.5%讀值）
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±（2.5μm+0.5%讀值）
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低端分辨率
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0.05μm
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0.1μm
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1μm
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*小曲率半徑（凸）
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1.0mm
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1.5mm
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5mm
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*小曲率半徑（凹，外置探頭）
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7.5mm
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10mm
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25mm
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|
*小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）
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30mm
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30mm
|
30mm
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*小測量面積
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Φ5mm
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Φ10mm
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Φ25mm
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*小基體厚度
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0.3mm
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40μm
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0.5mm
|
0.5mm
|
40μm
|
1mm
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連續(xù)模式下測量速度
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每秒20個(gè)讀數(shù)
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單值模式下*大測量速度
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每分鐘70個(gè)讀數(shù)
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主機(jī)
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型號(hào)特性
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MINITEST
720
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MINITEST
730
|
MINITEST
740
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探頭類型
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內(nèi)置
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外置
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內(nèi)置外置可換
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數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
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10
|
10
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100
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存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量
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*多10,000個(gè)
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*多10,000個(gè)
|
*多100,000個(gè)
|
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統(tǒng)計(jì)值
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讀值個(gè)數(shù)，*小值，*大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
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校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
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ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
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校準(zhǔn)模式
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出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
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極限值監(jiān)控
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聲、光報(bào)警提示超過極限
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測量單位
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um，mm，cm；mils，inch，thou
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操作溫度
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-10℃-60℃
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存放溫度
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-20℃-70℃
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數(shù)據(jù)接口
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IrDA
1.0（紅外接口）
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電源
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2節(jié)AA電池
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標(biāo)準(zhǔn)
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DIN
EN ISO1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA
2
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體積
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157mm
x 75.5mm x 49mm
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重量
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約175g
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約210g
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約175g（內(nèi)置）/230g（外置）
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